半導體老化試驗測試的用途
適用于塑膠、電子、食品、服裝、車輛、金屬、化學、建材、航天等多種行業(yè)的溫濕變化產(chǎn)品可靠性檢測。
半導體老化試驗測試的型號：

容積（單位：L）	工作室尺寸（D*W*H）mm	外型尺寸（D*W*H）mm
TS-80	450×450×500	1200×1000×1650
TS-225	500×600×750	1300×1150×1900
TS-500	700×800×900	1450×1400×2100
TS-800	800×1000×1000	1550×1600×2250
TS-1000	1000×1000×1000	1850×1600×2250

半導體老化試驗測試的圖片：半導體老化試驗測試的參數(shù)：
1.溫度范圍：-20℃、-40℃、-50℃、-60℃、-70℃、-80℃～+100（150）℃
2.濕度范圍：30%～98%RH
3.溫度波動度：±0.5℃
4.溫度偏差：≤2℃
5.濕度偏差：+2-3 %RH
6.升降溫速率：0.7～1℃/min
半導體老化試驗測試的特點：
◥全新歐美之防爆把手,的造型設(shè)計,外觀質(zhì)感高水準.
◥采用大型人機觸控對話式LED人機接口控制器,操作簡單,學習容易,穩(wěn)定可靠.
◥沖擊方式采用風格切換方式,將冷、熱溫度導入測試區(qū)實現(xiàn)冷熱沖擊測試目的.
◥沖擊時間0.1～999.9小時,循環(huán)周期1～9999次可設(shè)定.
◥可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動（手動）除霜.
◥運轉(zhuǎn)中狀態(tài)顯示及曲線,異常及故障點顯示說明及排除方法.
◥歐美原裝高效率復迭壓縮冷凍機組,運轉(zhuǎn)噪音地，省能源之設(shè)備
◥采用PID自動演算控制功能,溫度控制精度高
◥可作自動循環(huán)沖擊或手動選擇性沖擊并可選擇二槽或三槽式冷沖、熱沖進行沖擊.
◥可獨立擔當高溫箱或低溫箱使用,一機三用.
◥采用對臭氧系數(shù)為零的綠色環(huán)保（HFC）制冷劑R404、R23.
以上是艾思荔生產(chǎn)半導體老化試驗測試的相關(guān)信息,如需了解更多半導體老化試驗測試的具體參數(shù)、試驗條件等信息,請。