進(jìn)口精密型鹽霧試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)物理

　　進(jìn)口精密型鹽霧試驗(yàn)箱通常包括三個(gè)部分，鹽霧試驗(yàn)階段、潮濕試驗(yàn)階段、干燥試驗(yàn)階段。

　　鹽霧試驗(yàn)階段：一般來(lái)說(shuō)，除NaCl外，也可使用含其他化學(xué)品的電解液來(lái)模擬酸雨或其它工業(yè)腐蝕。

　　潮濕試驗(yàn)階段：測(cè)試程序通常要求高濕度條件，相對(duì)濕度要求為95-。

　　干燥試驗(yàn)階段：樣品干燥階段一般相對(duì)濕度≤30%。

　　結(jié)果判定：

　　功能必須正常，產(chǎn)品功能失效或性能參數(shù)超過設(shè)計(jì)余量為不合格;

　　腐蝕導(dǎo)致任何結(jié)構(gòu)物理特性減少25%以上為不合格(包括但不限于屈服強(qiáng)度、硬度、穿透強(qiáng)度、質(zhì)量及彎曲阻抗等產(chǎn)品重要參數(shù));

　　外露面不應(yīng)該出現(xiàn)腐蝕，涂鍍層及基體都不應(yīng)腐蝕，不應(yīng)有氣泡、開裂等影響產(chǎn)品外觀形象的不良現(xiàn)象。

　　非外露面，基體不應(yīng)出現(xiàn)腐蝕，涂鍍層腐蝕深度不應(yīng)超過表面的5%，腐蝕面積不應(yīng)超過10%;

　　參考標(biāo)準(zhǔn)

　　GB/T2423.17電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka:鹽霧

　　IEC60068-2-11電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法Ka:鹽霧試驗(yàn)

　　ASTM_B117操作鹽霧測(cè)試機(jī)1的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)方法

　　GJB150.1設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法總則

　　進(jìn)口精密型鹽霧試驗(yàn)箱詳細(xì)說(shuō)明:

　　進(jìn)口精密型鹽霧試驗(yàn)箱又叫循環(huán)腐蝕試驗(yàn)，循環(huán)腐蝕試驗(yàn)(CCT)主要應(yīng)用于汽車工業(yè)，在恒定鹽霧試驗(yàn)基礎(chǔ)上引入了高溫、濕度、低溫、干燥等參量，盡可能考慮了自然環(huán)境中的諸多條件因素，目的為取得與自然環(huán)境相關(guān)性更高的試驗(yàn)結(jié)果。進(jìn)口精密型鹽霧試驗(yàn)箱目的是用來(lái)確認(rèn)待測(cè)物忍受鹽霧環(huán)境的能力，利用鹽霧與濕氣相互循環(huán)方式來(lái)模擬實(shí)際使用環(huán)境。適用于評(píng)估金屬材料與鹽粒子所產(chǎn)生的電化學(xué)腐蝕效應(yīng)。